XF-A7は半導体検出器（Si-Pin)を搭載し、高速で信頼性の高い貴金属分析が可能な蛍光X線分析装置です。(最小0.01%)
金・プラチナ・銀の含有量分析は勿論、パラジウムやロジウム等、貴金属元素を主とした30元素の同時分析が行えます。
分析結果は付属のプリンターで簡単出力、または画像付きのレポート作成も可能です。買取地金鑑定時の
真贋・成分分析、リサイクル分析、貴金属製品メーカーや加工業者様の品質管理等、様々な分野でご活用頂けます。
価格においても半導体検出器を搭載した分析機として、業界の常識をくつがえす低価格を実現しています。