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BRUKER(ブルカー)
蛍光X線元素分析装置 (XRF)
メッキ厚測定・メッキ液の測定が可能!
パライバトルマリンの銅成分の測定も可能!
パライバトルマリンの銅成分の測定も可能!
CTX:元素分析用ポータブルベンチトップ型蛍光X線元素分析装置(XRF)
S1 TITAN:元素分析用ハンドヘルド蛍光X線元素分析装置(XRF)
高性能SDD検出器搭載のため、従来のSi-Pin検出器に比べ短時間で高精度な測定結果を実現!
Φ3mmの測定スポットで、コンビ製品などをピンポイントに測定できます。
メッキ厚測定・メッキ液の測定も可能!
パライバトルマリンの銅成分測定も可能で産地特定の参考として測定頂けます。
しかも、持ち運びができるコンパクトサイズ!
Φ3mmの測定スポットで、コンビ製品などをピンポイントに測定できます。
メッキ厚測定・メッキ液の測定も可能!
パライバトルマリンの銅成分測定も可能で産地特定の参考として測定頂けます。
しかも、持ち運びができるコンパクトサイズ!
特徴
●最新のグラフェンウィンドウSDD検出器搭載
●BRUKER(ブルカー)独自のDetectorShieldTMによる検出器保護
●最大450kcpsの優れたカウントレートによる高速分析
●BRUKER(ブルカー)独自のSharpBeamTMコリメータによる他には無い高分析精度を実現
●マグネシウム、アルミニウム、シリコンなどの軽元素の高速分析が可能
●Φ3mm測定スポットにより、コンビ製品などもピンポイントに測定が可能※オプション
●メッキ厚、メッキ液も測定が可能
●フルカスタマイズのキャリブレーションが可能
●USBメモリーによる手軽なデータ転送
●省スペース設計
●持ち運び可能な約7.5Kg
●BRUKER(ブルカー)独自のDetectorShieldTMによる検出器保護
●最大450kcpsの優れたカウントレートによる高速分析
●BRUKER(ブルカー)独自のSharpBeamTMコリメータによる他には無い高分析精度を実現
●マグネシウム、アルミニウム、シリコンなどの軽元素の高速分析が可能
●Φ3mm測定スポットにより、コンビ製品などもピンポイントに測定が可能※オプション
●メッキ厚、メッキ液も測定が可能
●フルカスタマイズのキャリブレーションが可能
●USBメモリーによる手軽なデータ転送
●省スペース設計
●持ち運び可能な約7.5Kg
CTX
ベンチトップ型蛍光X線元素分析装置(XRF)6インチ No.22-327
パソコン不要で省スペース設計の蛍光X線分析装置。
地金買取りは勿論、品位管理にご使用頂ける高性能機種です。
地金買取りは勿論、品位管理にご使用頂ける高性能機種です。
S1 TITAN
ハンドヘルド蛍光X線元素分析装置(XRF)
鉱物や大きな測定物・屋外で使用が可能はハンドヘルドタイプ。
ワークスタンドを使えば据え置き型としても使用が可能なモデルです。
ワークスタンドを使えば据え置き型としても使用が可能なモデルです。
オプションスタンド
ベンチトップスタンド
外形寸法:394X330X 559(H)
※扉閉め時
試料室寸法:264X203X173~211(H)mm
本体重量:約19kg
※扉閉め時
試料室寸法:264X203X173~211(H)mm
本体重量:約19kg
デスクトップスタンド
外形寸法:200X140X 360(H)
※扉閉め時
試料室寸法:100X120X71(H)mm
本体重量:約2.5kg
※扉閉め時
試料室寸法:100X120X71(H)mm
本体重量:約2.5kg
測定可能元素
黄色:宝飾業界でよく利用される元素※別途検量線作成が必要です。
仕様
型式 |
CTX/S1 TITAN 800
|
CTX/S1 TITAN 500
|
---|---|---|
検出器 |
シリコンドリフト検出器SDD
|
|
励起 |
Rhターゲット菅 定格4W 6~50kV,5~200μA |
Rhターゲット菅 定格2W 15~40kV,5~100μA |
コリメーターサイズ |
8mm・5mm・3mmから選択
|
|
フィルター |
5ポジション自動フィルター
|
|
測定元素 |
Mg-U
|
S-U
|
本体寸法 |
300mm
|
|
試料室寸法 |
120×135×85mm
|
|
本体重量 |
約7.5kg
|
約1.5kg
|
電源 |
ACアダプター・バッテリー
|
BRUKER(ブルカー)独自の技術
SharpBeamTM最適なコリメーター形状
●シャープで明確な測定スポットの獲得
●検出器がワークに対して非常に近くに ある為、他社に比べ高精度な測定結果が得られます
●消費電力の低減
●散乱光の低減
●バッテリー寿命の向上
●機器の軽量化
●検出器がワークに対して非常に近くに ある為、他社に比べ高精度な測定結果が得られます
●消費電力の低減
●散乱光の低減
●バッテリー寿命の向上
●機器の軽量化
Detector ShieldTM
●検出器の破損からの保護(永久保証)
●X線分析装置の故障の大半は検出器と管球です。検出器の保証は大きな利点です
●軽元素の測定時のウィンドウやキャリブレーションの切替が不要
●マグネシウム(Mg)、アルミニウム(AI)、シリコン(Si)などの軽元素測定時でも分析性能の精度を保ちます
●X線分析装置の故障の大半は検出器と管球です。検出器の保証は大きな利点です
●軽元素の測定時のウィンドウやキャリブレーションの切替が不要
●マグネシウム(Mg)、アルミニウム(AI)、シリコン(Si)などの軽元素測定時でも分析性能の精度を保ちます
BRUKER(ブルカー)
蛍光X線元素分析装置 (XRF)
詳細カタログをPDFファイルでご覧いただけます。お使いのパソコンにダウンロードしてご覧下さい。
必要な部分を選んで印刷することもできます。
必要な部分を選んで印刷することもできます。
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PROVIDING TAILORED SOLUTIONS FOR EACH CUSTOMER’S UNIQUE CHALLENGES.
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東京本社、東京営業所
平日【月~金】9:30~18:30
山梨営業所
平日【月~金】10:00~17:00
※受付時間以外のFAX/MAILは翌営業日の
ご返信となります。
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